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如何用 CST 快速获得 PCB 差分通道的 S 参数?

来源: | 作者:thinks | 发布时间 :2026-08-28 | 2 次浏览: | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

作者 | Jiang Xuxian

 

一、为什么要提取PCB 差分通道 S 参数?

在高速 PCB 设计中,很多工程师都会遇到一个问题:

板子已经在PCB Layout 工具中完成设计,但如何快速得到某一组信号链路的S 参数?

尤其是 LVDS、SerDes、DDR、USB、以太网等高速差分信号,工程上往往不仅要看走线是否连通,还需要关注差分通道在频域下的传输特性,例如:

 

l 差分插入损耗Sdd21;

l 差分回波损耗Sdd11;

l 差模到共模转换;

l 端口阻抗设置;

l 过孔、焊盘、参考地和回流路径对信号完整性的影响。

 

本期视频以LVDS 差分线为例,演示如何在CST Studio Suite 中基于 PCB 数据快速完成局部差分通道的 S 参数提取。

 

CST登录界面 

 

CST使用界面 

 

二、本视频主要演示什么?

本视频演示的是从PCB 中快速提取局部差分通道S 参数的完整流程:

 

PCB 数据导入→ 网络筛选 → 区域裁剪 → 3D 模型生成 → 网格检查→ 求解器设置 → S 参数提取 → Mixed-mode 结果转换。

 

通过 EDA Import 导入 PCB 数据后,可以直接保留叠层、铜皮、走线、过孔和材料信息,避免手动重新建模。

 

在本案例中,选择目标LVDS 差分网络后,对关注区域进行裁剪,并在差分线两端设置Discrete Port。每个单端端口参考阻抗设置为50 Ω,后续通过Mixed-mode 转换得到工程上更关注的差分S 参数,例如Sdd21 和 Sdd11。

 

三、这个流程适合哪些场景?

这个流程适合用于:

l PCB 局部高速通道分析;

l 差分线S参数提取;

l 过孔/焊盘/反焊盘影响评估;

l 局部阻抗不连续问题定位;

l SI 前期快速验证。

 

它的价值在于,可以直接基于PCB Layout 数据建立三维电磁模型,减少手动建模工作量,并快速得到关键链路的S 参数结果。

 

四、工程提醒

需要注意的是,局部裁剪模型的准确性与PCB 结构有关。实际工程中,裁剪区域需要尽量保留目标差分线周围的参考地、过孔、焊盘、反焊盘以及关键相邻铜皮,避免破坏原始PCB 的电磁回流环境。

 

关于Open/Open(add space) 边界以及不同裁剪区域对 S 参数结果的影响,我们将在下一篇文章中结合对比结果进一步展开。

 

五、总结

本视频展示了一种快速获得PCB 差分通道 S 参数的 CST 操作流程。

 

核心价值可以概括为:

 

基于 PCB Layout 数据快速生成3D 电磁模型,并完成局部差分链路的S 参数提取,用于评估插入损耗、回波损耗、差共模转换和局部阻抗不连续问题。

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